製品の説明
変圧器の中の巻上げ独特変数の測定に基づくZX-BRY01テスターは世界の先進国を使用するテスター正確な内部変圧器の欠陥の判断をすることできる内部欠陥の周波数応答分析(FRA)方法を鳴る。
従って設計および製造の変圧器、コイルおよび内部構造、変圧器のコイル巻線の完了の後で終了するべき、電圧レベル、巻上げの方法が同じなら、変数(CI、李)を対応する各コイルは定められる。従って各コイルの周波数領域の応答特性はまた対応する三相コイルの中で、持っている対等な頻度スペクトルを定まる。
それは相互回転、テストの間の段階の短絡起こるまたは輸送、コイルに相対的な変位をと操作短絡の下でもたらしておよび電磁石によって引き起こされる変圧器の巻上げの変更の張力による障害状況の間の衝突はコイル、それ作る配分変数を変形する。従って影響種は既存の周波数領域の変圧器の周波数応答の特徴、その周波数応答の広さの変更を変えるために起こり、共鳴周波数シフト、等HTBX-Hは故障検出63kV | 500kV電源変圧器の内部構造に適用する。
FRAの量子化プロセス変圧器変更の大きさの価値に従う別の周波数領域の内部巻く変数応答の変更は、変更の変圧器の内部巻上げの程度を、測定を分解検査する必要があるそれから判断する、周波数応答の大きさの変更の、地方および応答の傾向、変圧器がひどく傷ついたかどうか定めることができる。
比較すると連続した変圧器のために、にもかかわらず以前救われた周波数領域の特徴映像があるかどうか、欠陥の変圧器のコイルの指紋間の相違はまた欠陥のある程度を判断できる。当然、一組の変圧器の操作のためにより容易な変圧器の巻上げの元の独特グラフを救えば事故分析の後の維持そして点検はおよびより正確な強い基礎を提供する。
ラップトップおよび破片マイクロプロセッサ精密測定システム、広範囲テスト分析機能と、作動すること容易なコンパクトからのFRA。
製品の機能
高速1.Use見本抽出し、制御するべき高い統合マイクロプロセッサ。
ノートPCおよび装置を接続する2.Use USB。
ラップトップと器械間の3.Communication無線Bluetoothのインターフェイス。
4.Hardwareカセット メカニズムはDDSを(アメリカから)、正しく故障を検出できる採用する:ゆがみ、うねり、転位、傾き、相互回転短絡の変形および短絡の中間期に連絡すること。
デュアル・チャネル5.High速度16ビットA/D見本抽出(カーブからの波は実地試験の間に変更なら叩くスイッチ。明らかに変わる)。
6.Theソフトウェアは出力信号の範囲、最高の広さpeak±10Vを調節できる。
単語文書であるために自動的に試験結果を発生させる7.Theコンピュータ。
8.Use精密、安定性が高い部品、同じ段階の繰り返しテスト、測定の繰返し率>99.5%。
反水汚染の9.Finishedサーキット ボード、表面の特別扱いおよび有害なガス。
2測定システムが付いている10.The装置:線形スキャンおよび部門別スキャン。
11.Amplitude頻度特徴国民の技術仕様従うため。
12.Testデータ横の自動解析システムはA、B、Cの次として結果の類似を比較する:
a.conformanceは非常によい
b.conformanceはよい
c.conformanceは悪い
d.conformanceは非常に悪い
垂直はA-AのB-B、C-Cを、得る同じ段階の同様に下記のようにテスト データ、結果と巻く変形を比較するために元のデータを比較する:
a.normal
b.slightの変形
c.moderateの変形
d.seriousの変形
顧客が救い、印刷することができるように便利な単語文書を発生させる13.Automatically。
プロダクト変数
線形スキャン配分 |
スキャン測定の範囲 |
(1kHz) - (2MHz)、2000のスキャン頻度ポイント、決断:1kHz |
部門別スキャン測定の配分 |
スキャン測定の範囲 |
(0.5kHz) | (1MHz)、2000のスキャン頻度ポイント |
(0.5kHz) | (10kHz) |
(10kHz) | (100kHz) |
(100kHz) | (500kHz) |
(500kHz) | (1000kHz) |
他の変数
広さの測定の範囲 |
(- 100dB) | (+20dB) |
広さの測定の正確さ |
0.1dB |
スキャン頻度正確さ |
<0> |
信号入力インピーダンス |
1MΩ |
信号の出力インピーダンス |
50Ω |
共同段階の反復的な率 |
99.5% |
器械次元 |
300×340×120mm3 |
場合次元 |
310×400×330mm3 |
重量 |
10kg |